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德國DIATEST公司于1948年由Hermann Költgen先生創(chuàng)辦，總部坐落在達姆施塔特，DIATEST用戶更是遍布世界各地。DIATEST專業(yè)生產(chǎn)高精度孔徑量儀，其精度可達0.001mm。DIATEST的產(chǎn)品包括：測量儀、檢具、百分表、千分表等，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于航天航空、汽車、液壓以及機械制造等行業(yè)。

DIATEST塞規(guī)式孔徑測量儀（BMD）
塞規(guī)式孔徑測量儀（BMD）是可以自動定中心的高精度的孔徑內(nèi)徑測量儀器。具有高精密靜態(tài)孔徑測量和動態(tài)孔徑測量功能。既可用于手動檢測尺寸偏差和形狀缺陷錯誤的孔徑檢測儀器，也可以安裝在測量設(shè)備和自動化系統(tǒng)上。測量范圍從Ø 2.98到270mm。

DIATEST標準塞規(guī)式側(cè)頭形式
BMD-S4-CR-7.04、BMD-S6-CR-10.0、BMD-S10-CR-39.993、BMD-S10-CR-124.96

DIATEST通孔塞規(guī)式測頭形式
BMD-D4-CR-4.98、BMD-D6-CR-10.0、BMD-D10-CR-41.97
BMD-D10-CR-59.977、BMD-D10-CR-100.00

DIATEST盲孔塞規(guī)式測頭形式
BMD-FB6-CR-8.984
BMD-FB10-CR-41.973
BMD-FB10-CR-59.977
BMD-FB10-CR-100.00

DIATEST自動測量用塞規(guī)式測頭
BMD-D10-CR-30.0-RK
BMD-D10-CR-30.0-PK-2Z-Φ2Z=30-0.4mmm
BMD-D10-OCR-30.0-RK-ZHML

DIATEST特殊形式BMD塞規(guī)式測頭
BMD-S10-CR-28.0-S-FB-L1=3.0
BMD-S10-CR-30.0-OR-FASE0.5x45°
BMD-S10-CR-30.0-UM
BMD-S10-CR-10.0-2R
BMD-S10-CR-35.0-3P
BMD-D10-CR-28.0-SO-TA-L3=11

DIATEST測量平行槽用PA測頭
BND-PA-4-S-MCR-4.35、BND-PA-4-S-MCR-6.3

DIATEST多截面測頭
BMD-1ME、BMD-2ME-13-10、BMD-2ME-13-12、BMD-2ME-15-9、BMD-2ME-15-18
BMD-2ME-20-1、BMD-2ME-20-2、BMD-3ME-13、BMD-3ME-20、BMD-3ME-0-24-1
BMD-4ME-20-1、BMD-4ME-24-26-2、BMD-4ME-24-26-3、BMD-4ME-24-26-4
BMD-4ME-24-26-5、BMD-4ME-24-26-6、BMD-8ME-20-38

DIATEST兩瓣式小孔徑測量儀
多功能孔徑測量儀，可以測量孔徑范圍從Ø 0.47到41.3mm，測量孔徑的同時可檢測孔的圓度和橢圓度，尤其適用于小孔徑的測量，以及實驗室中高精度要求的孔徑測量，即可用于孔徑手動測量又可用于孔徑自動測量

DIATEST標準測頭陶瓷測點
T-HM-011、T-HM-022、T-HM-028、T-HM-036

DIATEST盲孔測頭普通碳鋼鍍硬洛
T-FB-011、T-FB-015、T-FB-026、T-FB-035

DIATEST標準T系列測頭硬質(zhì)合金測點
T-T-HM-2.75、T-T-HM-4.00、T-T-HM-6.0、T-T-HM-9.5

DIATEST標準T系列測頭普通碳鋼鍍硬洛
T-T-2.25、T-T-3.25、T-T-9.0、T-T-5.5

DIATEST 3點式測頭
T-3P-5.0、T-3P-7.0、T-3P-10.0、T-3P-12.5、T-3P-21.5

DIATEST 標準形式測頭
T-PA-5.0、T-PA-8.0、T-PA-21、T-PA-25

DIATEST內(nèi)徑表式測量儀
操作簡單，適用于大部分孔徑測量及大尺寸測量，校準簡單，可用千分尺或環(huán)規(guī)校準，通過中間橋自動定中心，除了測量孔徑外，還可檢測圓度、圓柱度等形狀誤差，也可用于測量平行距離內(nèi)徑測量。
MK5、MK6、MK7、MK6FB、MK8FB、MK8

DIATEST錐孔及倒角測量儀
內(nèi)部錐形量規(guī)測量一個圓錐形孔的大直徑或錐形鍵槽。一個IKT即可取代以前更慢和更昂貴的測量手段。
DIATEST IKT內(nèi)錐孔端面直徑測量系統(tǒng)
IKT-90-1、IKT-90-5、IKT-90-7、IKT-127-2、IKT-127-6、IKT-60-4
IKT-60-11、IKT-60-12、IKT-90-Z-3、IKT-90-Z-1

DIATEST AKT外錐面端面直徑測量系統(tǒng)
AKT-90-1、AKT-90-3、AKT-127-4、AKT-127-6、AKT-60-1
AKT-60-8、AKT-60-12、AKT-90-Z-1、AKT-90-Z-4

DIATEST螺紋深度測量規(guī)
DIATEST TD-量規(guī)可以測量螺紋的深度和通止。
系列2：M=3.5-6mm
系列3：M=7-10mm
系列4：M=11-14mm
系列5：M=16-18mm

DIATEST內(nèi)外齒輪測量儀
我司生產(chǎn)的內(nèi)齒輪測量儀采用了球形測頭，替代了傳統(tǒng)的量棒測量方式，從而提高了測量的精度，便捷性和穩(wěn)定性，同時還能測出內(nèi)孔的形狀誤差，如錐度，橢圓度等，為了滿足齒輪不同模數(shù)的變化，該齒輪測量儀的測球也是可以方便更換，從而大大的提高了測量儀的適用性，該測量儀適用于測量奇數(shù)齒輪和測量偶數(shù)齒輪。
ZM-2、ZM-3、ZM-6、ZM-7
T-ZM-2、T-ZM-2-4.0、T-ZM-2-5.5、T-ZM-2-6.5、T-ZM-2-9.0、T-ZM-2-9.5
T-ZM-3-10-(K)、T-ZM-3-12-(K)、T-ZM-3-14-(K)、T-ZM-3-11、T-ZM-3-16、T-ZM-3-19

DIATEST內(nèi)外徑測量系統(tǒng)
內(nèi)外徑測量系統(tǒng),內(nèi)外齒測量系統(tǒng)-DIA-COME
DIA-COME C2、DIA-COME C2 AL、DIA-COME C2 JS

DIATEST超高精度電子塞規(guī)
Diatron 1000電子塞規(guī)是新一代的超高精度DIATEST測量儀器，集成內(nèi)徑/孔徑測量和外徑測量，是一款靈活、安全數(shù)據(jù)傳輸?shù)钠炫灝a(chǎn)品。高精度顯示（7位）
Diatron 1000

DIATEST外徑測量比較儀
DIATEST外徑測量儀（AMG外徑卡規(guī)）是一種通用的高精度測量裝置，適用于生產(chǎn)和檢測領(lǐng)域，通過使用導(dǎo)向柱工件可以自動找正，測頭將行程直接傳遞到指示表上，這就保證了外徑的精密測量。
AMG外徑卡規(guī)

DIATRON數(shù)據(jù)傳輸單元
DIATRON-系列(電箱、電子柱、電子塞規(guī))包括能夠測量數(shù)字化測量儀器，傳輸，顯示和存儲數(shù)據(jù)。根據(jù)不同的應(yīng)用，并在測量作業(yè)的DIATRON被單獨使用或組合使用。該儀器是非常堅固，并提供靈活的操作能力。

尤其是DIATRON1000 - 高精度和數(shù)據(jù)傳輸?shù)膬x器。
DIATRON1000超高精度電子塞規(guī)
DIATRON2200系列電子柱
DIATRON6000電箱是帶模擬和數(shù)字顯示的SPC功能的顯示單元。

DIAWIRELESS無線傳輸
測量數(shù)據(jù)無線傳輸-DIAWIRELESS
DIAWIRELESS - 通過無線或藍牙Bluetooth® 將測量數(shù)據(jù)實時傳輸?shù)絇C。

DIATRON校中心檢具
特別適用于銑床、磨床、和鉆床等機床上。

DIATRON曲軸測量儀
該檢測儀用于檢測曲軸及其位置度誤差，在曲軸磨削加工、組裝和修理發(fā)動機工作中，特別在對發(fā)動機及壓縮機的檢測中得到廣泛的應(yīng)用。
KP150、KP300、KP500

DIATRON測量臺架
適用于DIATEST孔徑測量儀（如兩瓣式）小零件（小孔徑）系列測量應(yīng)用，兩瓣式測頭和測量臺架配合使用，可快速、準確地測量孔徑（可以測量孔徑、錐形孔、圓孔、錐形炮形狀以及橢圓度等等）。檢測孔的形狀公差時，對于非熟練操作者而言，使用浮動夾頭和V型塊等附件尤為重要因為這種配置可以準確、快速的傳遞測針的位移。也可測量的任意截面深度的直徑，在線生產(chǎn)中使用臺架式兩瓣式測量系統(tǒng)來控制孔徑的優(yōu)勢更為突出。

DIATRON浮動夾頭和轉(zhuǎn)接頭
浮動夾頭：當使用兩瓣式測量系統(tǒng)測量小孔(≤25.0mm)時，推薦使用測量臺架，測量過程為了讓測頭加入更好的自定心，可以在臺架上安裝一個浮動夾頭，該附件可以在水平面上提供微小的浮動量，這樣避免了測頭的磨損。浮動范圍為：0-1.5mm也提供可調(diào)整測力的浮動夾頭。
SH-T、SH-BMD-20、SH-BMD-30、SH-BMD-50

DIATRON校對環(huán)規(guī)
校對環(huán)規(guī)：按照企業(yè)標準或DIN2250-C。
28.000
28.000+0.000

DIATRON百分表和千分表
指針千分表MU1m/MU01Z
指針百分表MU10m/MU1Z
比較儀 (F1000)
數(shù)顯千分表MDU125
模擬千分表(ANA)
MU-1-m
MU-01Z
MU-10-m
MU-1Z
MDU-125
ANA

DIATEST標準塞規(guī)式測量儀BMD-S4-CR-7.04

DIATEST標準塞規(guī)式測量儀BMD-S4-CR-7.04

為了解決當前貿(mào)易教育的教育形式單一化問題，我們需要綜合教師的教育理論，教育方式，不斷的引進國外的教育經(jīng)驗，所以這樣的一個貿(mào)易教育研討組亟待組成，為了貿(mào)易教育方法的改革與創(chuàng)新，研討小組不能直接選擇某個教師的較好的教育方式，統(tǒng)一所有教師的教育形式，這樣不僅缺少了教育特色，還嚴重曲解了教育改革的真正含義。所以研討小組要不斷結(jié)合所有教師的教育經(jīng)驗，總結(jié)歸納得出秀的教育方案，統(tǒng)一教育內(nèi)容，但是教師的教育形式不能一致，這樣會影響教師的課堂特色發(fā)揮，影響學(xué)生的知識吸收，甚影響教育改革[2]。同時教育研討組還需要不斷的借鑒國外的教育經(jīng)驗，結(jié)合社會發(fā)展形式，補充當前貿(mào)易的教育內(nèi)容，完善教育體制，從而培養(yǎng)貿(mào)易人才。

(二)完善貿(mào)易教育體系建立

建立合理的教育體系有利于完善貿(mào)易教育的教學(xué)方式，而所謂的完善的教育體系就是導(dǎo)者，教育者和學(xué)生三者工作分配合理化，工作內(nèi)容具體化。身為導(dǎo)者要注重管理學(xué)生與教師的教育形式，教育安排等，例如對于教師的課程安排，導(dǎo)者不能按照老師的空閑時間隨便安排課程，這樣會導(dǎo)致教育系統(tǒng)的混亂，所以在安排課程的過程中需要導(dǎo)者咨詢專業(yè)貿(mào)易教育人士的意見，再結(jié)合社會貿(mào)易市場的發(fā)展來決定課程形式。對于教育者來說則不僅要滿足學(xué)生的知識內(nèi)容需求，還需要對其實踐能力進行大力培養(yǎng)。所以教師要合理安排課程形式，將理論與實踐合理結(jié)合，既能保證學(xué)生專業(yè)知識的吸收，還要有利于學(xué)生動手能力的提高。完善教育系統(tǒng)的后一個因素就是學(xué)生，對于貿(mào)易專業(yè)來說，需要的是動手能力強，專業(yè)經(jīng)驗足的學(xué)習(xí)者，所以作為學(xué)生，若想成為專業(yè)技能強的佼者，就需要不斷的進行操作能力培訓(xùn)。

(三)提高貿(mào)易教育的師資力量

對于貿(mào)易改革的外在影響因素來說我們不能僅去改變他們對于教育改革的想法，我們還要學(xué)國外教育經(jīng)驗，選擇適合我國貿(mào)易教育發(fā)展的教育方式，就有效的經(jīng)驗來說，先我們要做的就是提高國內(nèi)的師資力量。所以在教師方面我們可以對于專業(yè)知識好的教師進行貿(mào)易實踐培訓(xùn)，或者國家資助他們?nèi)鈱W(xué)習(xí)，以提高他們的實踐教育能力。同時學(xué)校也可以從國外或者企業(yè)引進專業(yè)性教師，這樣可以使教育更接近貿(mào)易的社會市場。同時學(xué)校也可以組織操作實習(xí)，通過聯(lián)系相關(guān)企業(yè)讓老師帶領(lǐng)學(xué)生們進行實習(xí)，這樣不僅有利于學(xué)生進行實踐操作，還能夠提高教師的實踐教育能力。

二、結(jié)語

總之，貿(mào)易教育方式的改革與創(chuàng)新對于我國企業(yè)發(fā)展來說是*的，我們要注意貿(mào)易教育中出現(xiàn)的問題，對于貿(mào)易專業(yè)來說要形成專業(yè)的教師研討組，完善教育體系，并且提高教育師資力量。從而保證貿(mào)易教育方式的正常改革。